Кафедра Диагностических информационных технологий

Evaluation of the Effect of Nonlinearity of the Successive Approximation ADC to the Measurement Error of RMS

Авторы:

Серов А.Н. , Серов Н.А. , Макарычев П.К.

Вид публикации (тезисы - Т, доклад - Д):

Д

Наименование сборника:

Номер статьи 8637630 2018 International Symposium on Industrial Electronics, INDEL 2018; Banja Luka; Bosnia and Herzegovina; 1 November 2018 до 3 November 2018 DOI: 10.1109/INDEL.2018.8637630

Индекс ISBN:

978-153862353-4 (SCOPUS)

Количество авторов

Всего: 3

Сотрудники МЭИ: 3

Шифр НГ:

07073 Бехтин